EDX6600X射線熒光光譜儀? 技術性能及指標:

1.1. 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)；

1.2. 元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%；

1.3. 測量時間：100-300秒；

1.4. RoHS指令規(guī)定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其檢測限度zui高達2PPM；

1.5. 能量分辨率為149±5電子伏特；

1.6. 溫度適應范圍為15℃至30℃；

1.7電源：交流220V±5V；（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。）

EDX6600X射線熒光光譜儀產(chǎn)品特點

2.1EDX6600是專門針對ROHS、EN71等環(huán)保指令設計得一款產(chǎn)品。

2.2打破傳統(tǒng)儀器直線的設計，采用流線體的整體化設計，儀器時尚大方。

2.3采用美國型的Si-pin探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析準確且維護成本低。

2.4采用自主研發(fā)的SES信號處理系統(tǒng)，有效提高測量的靈敏度，讓測量更精確。

2.5一鍵式自動測試，使用更簡單，更方便，更人性化。

2.6七種光路校正準直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品自動切換。

2.7多重防輻射泄露設計，輻射防護級別屬于同類產(chǎn)品zui高級。

2.8*的一體化散熱設計，使整機散熱性能得到極大提高，保證了核心部件的運行安全。

2.9*的機芯溫控技術，保證X射線源的安全可靠運行，有效延長其使用壽命，降低使用成本。

2.10多重儀器配件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全。

2.11ROHS測試軟件，標準視窗設計，界面友好，操作方便。

2.12本機采用USB2.0接口，有效地保證了數(shù)據(jù)準確高速有效的傳輸。

EDX6600儀器硬件部分主要配置

3.1Si-pin電制冷半導體探測器:（型探測器）

3.1.1. Si-pin電制冷半導體探測器；分辨率：149±5電子伏特

3.1.2. 放大電路模塊:對樣品特征X射線進行探測；把探測采集的信息,進一步放大。

3.2 X射線激發(fā)裝置:

3.2.1. 燈絲電流zui大輸出：1mA；

3.2.2.屬于半損耗型部件，使用壽命大于20000小時

3.3 高壓發(fā)射裝置:

3.3.1. 電壓zui大輸出： 50kV；

3.3.2.zui小5kv可控調(diào)節(jié)

3.3.3.自帶電壓過載保護

3.4 多道分析器:

3.4.1. 將采集的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,并將處理結果提供給上位機軟件。

3.4.2 .zui大道數(shù)： 4096；

3.4.3 包含信號增強處理

3.5光路過濾模塊

3.5.1 降低X射線光路發(fā)送過程中的干擾，保證探測器接收信號準確。

3.5.2 將準直器與濾光處整合；

3.6 準直器自動切換模塊

3.6.1 多達6種選擇，口徑分別為8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 3＃, 1＃, 1-2＃。

3.7 濾光片自動切換模塊

3.7.1五種濾光片的自由選擇和切換。

3.8 準直器和濾光片的自由組合模塊

3.8.1多達幾十種的準直器和濾光片的自由組合。

3.9 工作曲線自動選擇模塊

3.9.1自動選擇工作曲線，摒棄手動選擇，避免人為操作失誤，將自動化和智能化

演繹得更*，使操作更人性，更方便。

4. 軟件MeaRohs2008

4.1軟件簡介

專門針對ROHS檢測而開發(fā)，對采集的光譜信號進行數(shù)據(jù)處理、計算并報告顯示測量結果。

4.2金屬合金元素分析軟件CA2008(可選)

4.2.1元素分析范圍：從硫（S）到鈾（U）；

4.2.2一次可同時分析24個元素；

4.2.3分析檢出限可達100PPM；

4.2.4含量分析范圍一般為100ppm—99.9%；

4.2.5軟件自帶多種圖像處理和分析計算方法；

4.2.6多次測量重復性可達0.1％；

4.2.7長期工作穩(wěn)定性為0.1％；

4.2.8能量分辨率為149±5eV；

4.2.9 軟件自帶多種圖像處理和計算方法；

4.2.10應用領域：合金（如黃銅、不銹鋼等合金）所含元素含量分析（如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素）；

4.3 鍍層厚度測試軟件NSMeasure（可選）

4.3.1元素分析范圍：從硫（S）到鈾（U）；

4.3.2一次可同時分析3層以上鍍層；

4.3.3分析檢出限可達0.01μm；

4.3.4分析厚度一般為0.1μm到30μm之間；

4.3.5多次測量重復性可達0.1μm（對于小于1μm的zui外層鍍層）；

4.3.6長期工作穩(wěn)定性為0.1μm（對于小于1μm的zui外層鍍層）；

4.3.7配置小孔準直器，測試光斑在0.2mm以內(nèi)；

4.3.8探測器能量分辨率為149±5eV；

4.3.9應用領域:金屬電鍍層厚度的測量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu等；

4.4 功能介紹

※專門應對歐盟RoHS指令中六種物質(zhì)涉及的五種元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr測試，測量時間為100-300秒

※操作界面簡潔直觀，使用方便，無需專業(yè)人士操作

※可自動選擇適合的校準曲線，測量更方便，更準確。

※中英文界面自動切換，并具有第三方語言訂制功能

※自動校準儀器。

※自帶樣品材質(zhì)定性分析，防止手動用戶選擇錯誤曲線

※多種報告形式打印。如下圖所示：

※可同時顯示多個光譜圖

※*的機芯溫度監(jiān)控技術，保證X射線源的安全可靠運行，有效延長其使用壽命，降低使用成本。

4. 樣品配置

標準樣品用于制作工作曲線

4.1 樣品腔

開放式大樣品腔

4.2 標樣

歐盟標樣EC680K

純銀樣品

X射線熒光光譜儀

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